Thiết bị đo quang học
Giới thiệu chung
Nền tảng đo lường Compact
KMP
Hệ thống chuyên dụng trong lĩnh vực chiếu sáng của đèn pha ô tô, có khả năng đo phân bố ánh sáng gián tiếp và có thể giảm đáng kể khoảng cách đo thông qua xử lý hình ảnh quang học.
Phạm vi tia sáng song song của nguồn sáng có thể được tập trung vào một mặt phẳng tiêu điểm. Mọi chùm tia xuất phát từ nguồn sáng trong hệ thống hình ảnh đều đi qua thấu kính Acrobet và đến mặt đo, cho phép thực hiện việc đo đạc.
Hệ thống đo LID sử dụng phương pháp 25m truyền thống cũng có thể được xây dựng, và phương pháp đo gián tiếp 25m của Technoteam có độ chính xác gần như các thiết bị LMT chuẩn, đồng thời thời gian đo cũng rất ngắn.
Tư vấn với chuyên gia
Tính năng
Ứng dụng sản phẩm
Đèn phản chiếu / Đèn pha / Chiếu sáng sân bay / Nghiên cứu và phát triển đi kèm với đo lường và sản xuất.
Đèn phản xạ
Trong các đèn phản xạ sử dụng LMK trong KMP, phần mềm LID Checker mang lại lợi thế vượt trội về tốc độ.- Có thể rút ngắn thời gian quy trình khi sử dụng trong dây chuyền sản xuất.
Đèn pha (Head lamps)
- KMP giúp giảm độ sáng, cho phép đo và đánh giá đèn pha ô tô trong vài giây.
- Module đèn pha đo (<120 mm) và LMK hoặc LMK Color cung cấp các khả năng đa dạng với LID Checker, ngay cả trong không gian hẹp và thời gian ngắn.
- Ngoài ra, có thể định nghĩa các thông số kiểm tra theo tiêu chuẩn ECE, SAE (đánh giá hợp lệ/không hợp lệ theo các tiêu chuẩn pháp lý ô tô như ECE/SAE).
Ánh sáng sân bay
- Việc định nghĩa các khu vực hình học khác nhau là một đặc điểm quan trọng trong phân tích quang học.
- Dữ liệu khu vực quan tâm của chiếu sáng sân bay sẽ tự động vượt qua các tham số hình elip và có thể kiểm tra lỗi đo.
Nghiên cứu phát triển và dây chuyền sản xuất
- Dây chuyền kiểm tra
Vì có thể đo trong vài giây, quá trình kiểm tra toàn bộ đèn chiếu sáng trong giai đoạn sản xuất hàng loạt có thể thực hiện.
- Tiêu chuẩn quốc tế
Có thể chỉ định giá trị của các điểm theo ECE/SAE hoặc theo yêu cầu của người sử dụng, và kiểm tra tính hợp lệ trong thời gian thực.
- Trích xuất tệp IES
Kết quả đo có thể được chuyển đổi và xuất ra dưới dạng tệp IES, với phân bố ánh sáng được ghi chú theo các góc.
Thông số kỹ thuật
Kompaktmessplatz Compact Measuring Platform
KMP
KMP là thiết bị công nghệ đo lường liên quan đến nghiên cứu và phát triển (R&D) cũng như sản xuất cho phân tích phân bố ánh sáng với LID CHECKER.
|
Dữ liệu kỹ thuật |
|
|
Kích thước hình học |
980 mm x 850 mm x 650 mm |
|
Kích thước đối tượng đo |
< 120 mm (đường kính tối đa của bề mặt phát sáng) |
|
Cảm biến máy ảnh |
CCD Sony ICX 285 AL (2/3"); effective Pixel |
|
Giao diện |
Gigabit Ethernet Interface (GigE ®) |
|
Phù hợp quang phổ |
V(λ) [ f1' < 3.5% ]; X(λ) [ f1* < 4% ] |
|
Phạm vi đo |
Có thể điều chỉnh bằng cách sử dụng các tích hợp khác nhau. |
|
Độ phân giải góc |
up to 0.01° |
|
Trường ảnh |
±24° horizontal; ±15° vertical |
|
Sai số hiệu chuẩn |
Focusable lens ΔL [ < 2.5% ] |
|
Độ lặp lại |
∆I [ < 0.1% ]; ∆x,y [ < 0.0001 ] |
|
Độ chính xác đo lường |
∆I [ < 3% ]; ∆x,y [ < 0.0020] |
|
Đồng đều |
∆I [ < 3% ] |
|
Độ tương phản có thể đo được |
Thông thường 1:1000 (bao gồm đo lường) |
|
Thời gian đo |
Độ sáng toàn bộ khu vực trong 1 phút. |
Thư viện hình ảnh
ISSOFT VINA
Now
