광학계측기
전체 소개
Kompaktmessplatz Compact Measuring Platform
KMP
기존 25m 방식을 사용한 LID 측정 시스템도 구축이 가능하며, Technoteam 의 25m Indirect 측정 방식은 기준이 되는 LMT 장비와 근접하게 정밀하며, 측정 시간 또한 매우 짧습니다.제품이미지자동차 헤드램프의 프로젝트 빔 분야에서의 활용이 특화된 시스템으로 간접적 배광분포를 측정 할 수 있으며, 광학적 이미지 프로세싱을 통해 측정거리를 크게 줄일 수 있습니다.
광원의 병렬적 광선 범위를 하나의 초점면으로 이미지 시스템 내의 광원으로부터 출발한 모든 다발의 광선이 아크로뱃 렌즈를 통화하여 측정면에 도달하여 측정이 가능합니다.
전문가 상담
제품 특징
제품 적용 분야
리플렉터 램프 / 헤드램프 / 비행장 조명 / 계측에 수반되는 연구개발 및 생산
Reflector lamps
- KMP 내에서 LMK를 사용하는 반사경 램프의 경우 LID Checker 소프트웨어는 주목할 만한 속도상의 이점을 제공합니다.
- 생산라인에 사용하여 공정시간의 단축 효과를 보실 수 있습니다.
Head lamps
- KMP는 광도를 감소시켜 수초 내로 자동차 헤드램프 측정 및 평가가 가능합니다.
- 측정용 헤드램프 모듈(<120 mm)과 LMK나 LMK Color는 빠르고, 좁은 공간에서도 가능한 LID Checker로 다양한가능성을 제공합니다.
- 그 외에도 ECE, SAE에 따라 다양한 테스트 사양을 정의할 수있습니다.
- (ECE/SAE등 자동차 법규기준의 양/불 판정)
Airfield lighting
- 다양한 기하학적 영역을 정의하는 것은 광학적 분석을 위한 중요한 특징입니다.
- 관심 영역의 데이터 비행장 조명의 경우 타원 매개변수가 자동으로 통과하여 측정 오작동을 테스트할 수 있습니다.
계측 수반 연구개발 및 생산라인
- 검사 라인
수초 내로 측정이 가능하기 때문에 프로젝션 램프를 양산 단계에서 전수 검사가 가능합니다.
- 국제 규격
ECE/SAE 또는 유저가 원하는 포인트의 값을 지정할 수 있으며, 각 규격에 부합하는지 실시간으로 검수가 가능합니다.
- IES File 추출
측정된 결과는 조명의 배광분포를 각도 별로 표기된 IES 파일로 변환 추출이 가능합니다.
기술 사양
Kompaktmessplatz Compact Measuring Platform
KMP
KMP는 광도분포 분석을 위한 LID CHECKER R&D 및 생산 관련 측정기술 장비입니다.
| 기술 데이터 | |
|---|---|
| 기하학적 차원 | 980 mm x 850 mm x 650 mm |
| 측정 객체의 크기 | < 120 mm (발광 표면의 최대 직경) |
| 카메라 센서 | CCD Sony ICX 285 AL (2/3"); effective Pixel ca. 1380 (H) x 1030 (V); 14 Bit digital |
| 인터페이스 | Gigabit Ethernet Interface (GigE ®) |
| 스펙트럴 매치 | V(λ) [ f1' < 3.5% ]; X(λ) [ f1* < 4% ] Z(λ) [ f1* < 6% ]; V'(λ) [ f1* < 6% ] |
| 측정범위 | 서로 다른 통합을 사용하여 조정 가능 노출 시간 : 100μs - 15s → ca. 3 Mcd – 20cd 다음을 사용하여 더 높은 강도를 측정할 수 있음(옵션 회색 필터) |
| 각도 해상도 | up to 0.01° |
| 이미지 필드 | ±24° horizontal; ±15° vertical |
| 교정 불확도 | Focusable lens ΔL [ < 2.5% ] |
| 반복성 | ∆I [ < 0.1% ]; ∆x,y [ < 0.0001 ] |
| 측정 정확도 | ∆I [ < 3% ]; ∆x,y [ < 0.0020] |
| 균일성 | ∆I [ < 3% ] |
| 측정 가능한 대조 | 공통 1:1000(측정 포함) CIE TC2-59 드래프트에 따른 조건/특성 f25 |
| 측정기간 | 전체 영역 휘도 1분 분포(예: ±24°, ±15°, 0.01°) |
이미지 갤러리
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